Institut Vinča je jedinstven po multidisciplinarnosti svojih naučnih kapaciteta i poseduje najveću infrastrukturu naučno-istraživacke opreme u Republici Srbiji. U Institutu je takođe smeštena kapitalna oprema velike vrednosti kao i korisničko postojenje FAMA koji služe ne samo za naučne projekte koji se realizuju u Institutu Vinča već i široj naučnoj zajednici u Republici Srbiji.
Spisak naučno-istraživačke opreme po laboratorijama možete preuzeti ovde.
Kapitalna oprema
Ispod je prikazan deo kapitalne opreme koju institut poseduje i u kojoj laboratoriji se nalazi.
FAMA-postrojenje za modifikaciju i analizu materijala jonskim snopovima JINR, AEA TECHNOLOGY, DANFYSI
X-ray difraktometar Brucker Advance 8
GLAD (GLancing Angle Deposition) komora - za deponovanje tankih slojeva pod malim uglovima elektronskim snopom
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- isparavanje materijala pomoću elektronskog topa
- rotacija podloge po dve ose
- deponovanje kosih i vertikalnih "stubića", spirala i cik-cak struktura
- vakuum u komori od 10-7 mbar
- kvarcna vaga za merenje debljine deponovanog sloja
Jonski implanter - HV terminal 500 kV za modifikaciju čvrstih materijala jonima iz oblasti srednjih i visokih energija.
Laboratorija za teorijsku fiziku i fiziku kondenzovane materije
Karakteristike:
- dva tipa izvora: Nilsenov jonski izvor i radio-frekventni (RF) jonki izvor
- analizirajući magnet sa magnetnim poljem do 2T i poluprečnikom krivine od 90°
- tipične jonske energije su u opsegu od 60 do 500 keV
- mogućnost implantacije jona iz gasova ili iz čvrstih materijala
- maksimalna veličina uzoraka 2,5 × 2,5 cm2
- implantacija pod uglom od 0° ili 7° u odnosu na normalu na površinu uzoraka
- vakuum u komori 10-6 mbar
- mogućnost stavljanja istovremeno nekoliko uzoraka u komoru
SPECSTM XPS (Rendgenska fotoelektronska spektroskopija) - za proučavanje hemijskog sastava površine materijala.
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- UHV komora (ultra visoki vakuum) za rendgensku fotoelektronsku spektroskopiju (XPS)
- UHV komora za pripremu uzoraka
- dvo-anodni izvor X-zračenja (AlKα / AgLα)
- elektronski top FG 15/40 za kompenzaciju elektrostatičkog naelektrisanja
- izvor jona za dubinsko profiliranje
HRTEM FEI Talos F200X G2 - visoko-rezolucioni transmisioni elektronski mikroskop
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- FEG (field emission gun) izvor elektrona sa maksimalnim radnim naponom do 200 kV
- rezolucija mikroskopa ispod 0.12 nm
- maksimalno uvećanje do 1.5Mx
- mogućnost rada u više modova (TEM, HRTEM, STEM, itd.)
- ”piezo stage” za fino pomeranje uzorka (≤ 20 pikometara)
- goniometar za tilt uzoraka (α/β) ±30º/±30º
- EDS analiza
SEM FEI Scios2 Dual Beam System - skanirajući elektronski mikroskop za ispitivanje morfologije površine čvrstih materijala
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- FEG (field emission gun) izvor elektrona sa maksimalnim radnim do 30 kV
- rezolucija mikroskopa ispod 1nm
- EDS detektor
- FIB jonska kolona
- PLASMA CLEANER za čišćenje površine uzorka plazmom
- GIS-GAS INJECTION SYSTEM za deponovanje platine
Balzers SPUTTRON II sistem za depoziciju tankih slojeva - za deponovanje tankih slojeva metala i njihovih jedinjenja (npr. nitrida, oksida, itd.)
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- dva načina deponovanja: d.c. deponovanje i radio-frekventno (RF) deponovanje
- mogućnošću reaktivnog jonskog rasprašivanja
- mogućnost formiranja jednoslojnih i višeslojnih struktura
- četiri nosača mete za rasprašivanje različitih materijala
- mogućnost zagrevanja podloge do 400º
- pritisak u komori u opsegu 10-6 mbar
TMAQ400 -Termo-mehanički analizator - za merenje mehaničkih svojstava materijala, istraživanje novih materijala, podučavanje i kontrolu kvaliteta
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- široki temperaturski opseg rada(-150-1000°C)
- precizna kontrola temperature (± 1°C)
- poseban dodatak rezervoara za hlađenje omogućuje pasivno hlađenje u struji N2
- softverski omogućeno programiranje sile u širokom opsegu (0,001-2N)
- režimi rada: standardni; napon/deformacija; puzanje; stres/relaksacija; dinamički i modulisani
- eliminisali efekti termičkog gradijenta tokom merenja
HORIBA JOBIN YVON iHR 320 elipsometar - za analizu optičkih svojstava materijala i određivanje debljine uzoraka
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- snimanje u opsegu talasnih dužina od 260 do 2066 nm, tj. energija od 0,4 do 4,8 eV
- ručno podesivi goniometar od 55o do 90o sa korakom od 5o
- ex situ režim rada
- in situ režim rada
- snimanje u refleksionom i/ili transmisionom modu
- monohromator
- snimanje više talasnih dužina istovremeno MWL (multi wavelength system)
Magneto-optički Kerov mikroskop i magnetometarski sistem (EVICO MAGNETICS) - za vizuelizaciju magnetnih domena i procesa magnetizacije i merenje površinskih histerezisnih petlji
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- polarizacioni mikroskop
- LED lampa kao izvor svetlosti
- snimanje u polarnom i longitudinalnom režimu rada
- postoji mogućnost zagrevanja/hlađenja uzoraka tokom snimanja (4K – 325 K)
- rotiranje uzorka u magnetnom polju
- opseg polja u ravni 10-4 T do 1.4 T
VEECO Multimode Quadrex SPM mikroskop u polju atomskih sila (AFM) - se koristi za ispitivanje topografije
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- mogućnost rada u više režima rada, AFM, MFM i EFM režimi rada
- visoka osetljivost uređaja i mogućnost snimanja do atomske rezolucije
- dimenzije uzoraka 1×1 cm2
Vakuumska peć MTI GSL 1600X, modifikovana za depoziciju nanostruktura, metodom VLS (Vapor-Liquid-Solid – para-tečno-čvrsto)
Laboratorija za atomsku fiziku
Karakteristike:
- mogućnost primene različitih nosećih gasova – protok do 100 sccm
- temperatura zagrevanja do 1600 oC
- maksimalna brzina zagrevanja 10 o/min
Gasni hromatograf sa masenim detektorom i termalnim desorberom, Agilent Technologies
Induktivno spregnuta plazma sa optičkom emisionom spektrometrijom, Thermo Scientific
Platforma za analizu mikročipova, Illumina Iscan Microarray Scanner
